Лабораторно-аналитическое оборудование
Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный спектрометр Xenemetrix Анализатор X-Calibur представляет собой компактный настольный спектрометр с уникальной геометрией переднего анода. Предназначен для элементного анализа массивных, порошковых, спрессованных, сплавленных образцов. Анализатор обеспечивает неразрушающее качественное и количественное определение содержания элементов от углерода до фермия с пределами обнаружения от суб-ppm до высоких концентраций, выраженных в процентах по массе. |
|
ИК-Фурье спектрометр Спектрометр i-Red 7800u-L предназначен для работы в средней инфракрасной области спектра. Используется для качественной и полуколичественной идентификации органических и неорганических соединений, в минералах, в моно- и полиминеральных горных породах. |
|
Атомно-абсорбционный спектрофотометр Атомно-абсорбционный спектрометр PERSEE A3F представляет собой автоматизированную систему для выполнения атомно-абсорбционного анализа с пламенной атомизацией. Используется для определения количественного анализа элементного состава (Au, Ag. Cu, Pb, Zn, Cr, Mn и др.) по атомным спектрам поглощения. |
|
Рентгеновский дифрактометр Дифрактометр серии XD-3 позволяет определять качественный и количественный минералогический фазовый состав образцов, состояния твердого тела (кристаллическое, аморфное, аморфное с кристаллическими включениями), изучать строение, структуру и свойства минералов, химических соединений, материалов. |
|
Пламенный фотометр Пламенная фотометрия, относящаяся к одному из видов атомно-эмиссионной спектроскопии, является экспрессными высокочувствительным методом идентификации и количественного определения легко ионизируемых элементов. Пламенный фотометр применяется для определения щелочных, щелочноземельных элементов в образцах (K, Na, Ca, Ba, Li). |
|
Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой EXPEC PlaAr MS Масс-спектрометр с индуктивно-связанной плазмой EXPEC PlaAr MS является современным высокочувствительным методом элементного анализа (пределы обнаружения достигают десятых и сотых долей ppt (нг/л)), который позволяет проводить определение практически всех элементов Периодической системы им. Д.И. Менделеева в одной пробе. |
|
Сканирующий электронный микроскоп Сканирующий электронный микроскоп TESCAN VEGA Compact позволяет получать СЭМ-изображения и проводить анализ элементного состава минералов, природных и синтетических веществ. Анализ производится в одном окне программного обеспечения, что значительно упрощает получение данных как о морфологии поверхности образца, так и его локальном элементном составе. |